與 XULM-PCB 和 XDLM-PCB 相比,FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB 配備了高靈敏度的矽漂移探測器 (SDD)、不同的準直器和濾波器。這也為根據 ENIG 和 ENEPIG 方法進行的測試創造了最佳測量條件。在其基本配置中,儀器有一個拉出式樣品台,可簡化 PCB 定位。根據要求,這可以配備用於大型 PCB 的樣品台擴展。
• 鎢或鉻微聚焦管
• 4個可切換的準直器,優化測量條件
• 3種可切換的濾波器,為更複雜任務提供最佳激發條件
• 最小測量點 Ø 約0.15 mm
• 矽漂移探測器 (SDD),用於分析從鋁 (13) 到鈾 (92) 的元素
• Fischer 專利:DCM 方法可簡單快速地調整測量距離
• 用於印刷電路板的手動可抽取載物台,最大 610 x 610 毫米(24 英寸 x 24 英寸)
• 最大樣品高度 10 毫米
• 根據德國輻射防護法,個別接受作為完全受保護的儀器