X射线荧光光谱仪 FISCHERSCOPE® XDV®-SDD

测量检查SDD

• 高階全能 XRF 分析儀，符合 ISO 3497 和 ASTM B 568 標準，用於自動測量非常薄的鍍層 (< 0.05 μm) 和低於百萬分之一含量範圍的精細材料分析 • 鎢陽極微聚焦管 • 4個可切換的準直器，優化測量條件 • 6種可切換的濾波器，為更複雜任務提供最佳激發條件 • 極其強大的矽漂移檢測器 (SDD)，具有 50 mm² 的超大有效面積 • 數位脈衝處理器 DPP+ 可提高計數率、縮短測量時間或提高測量結果的再現性 • 分析從 Al(13) 到 U(92) 的元素 • 樣品高度可達 14 cm • 高精度、可程式 XY 平台，定位精度 < 5 µm，適用於小型結構的自動測量 • DCM 方法可簡單快速地調整測量距離 • 完全受保護的儀器，根據現行輻射防護法規獲得型式認證 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD 是 Fischer 產品組合中功能最強大的 X 射線螢光儀器之一。該 XRF 光譜儀配備了一個強大的高分辨率矽漂移探測器 (SDD)，有效面積為 50 mm²。這讓您可以精確且無損的測量最薄的鍍層 - 例如。 導線架上約 2 奈米厚的金鍍層。 裝載全新內部研發的數位脈衝處理器 DPP+，您可以將測量性能提升到一個新的層次。現在可以處理更高的計數率，從而縮短測量時間或提高測量結果的再現性。同時，XDV-SDD 非常適合無損材料分析。例如。它對塑料中微量鉛的檢測靈敏度約為 2 ppm——比 RoHS 或 CPSIA 所要求的數值低幾個數量級數。 為了給每次 XRF 塗鍍層厚度測量創造理想的測試條件，XDV-SDD 具有可更換的準直器和濾波器，使得可以在科學化的水準上工作。這款極其堅固的設備具有直觀的控制面板，可經由操縱桿和按鈕輕鬆操作，專為工業應用中的系列測試而設計。