X射线荧光光谱仪 FISCHERSCOPE® XDL®

测量质量控制检查

• 能量色散X射線螢光光譜儀，自動進行材料自動分析和鍍層厚度的非破壞測量，採用ISO 3497和ASTM B 568標準； • XDLM的最小測量點： 0.1毫米; XDL的最小測量點：約 0.2毫米 • 鎢X射線管或鎢微聚焦管（XDLM）作為X射線源 • 經驗證可用於快速測量的比例接收器探測器 • 固定或可更改的準直器 • 固定或可自動切換基本濾片 • 可選擇手動或可程式設計的XY載物台； • 開槽箱體設計用於測量大的印刷電路板 • 透過攝影機可輕鬆固定測量位置 • 經過認證的全面保護設備； FISCHERSCOPE®X-射線 XDL®和XDLM®光譜儀與 XUL 系列密切相關。主要元件（例如探測器，X射線管和濾波器組合）是相同的，但兩者有一個顯著的區別：XDL和XDLM設備是從上到下進行測量，這意味著可以方便地分析非平面樣品-複雜形狀不再是難題！ 自上而下的測試方式還有另一個優點：可以很容易地實現自動測量。 XDL240和XDLM237配備了可程式設計控制的樣品測試台，非常適合掃描樣品表面。 因此，您可以檢查較大部件上的鍍層厚度，或自動逐個測量大量的小部件。 與XUL系列一樣，XDLM中的“ M”代表“微聚焦管”。 這意味著這些設備特別適合分析小樣品。 XDLM的測量點直徑僅為0.1毫米，非常適合電子行業。