X射线荧光光谱仪 FISCHERSCOPE® XDAL® 600
用于电子元件测量

X射线荧光光谱仪 - FISCHERSCOPE® XDAL® 600 - HELMUT FISCHER SRL - 用于电子元件 / 测量
X射线荧光光谱仪 - FISCHERSCOPE® XDAL® 600 - HELMUT FISCHER SRL - 用于电子元件 / 测量
X射线荧光光谱仪 - FISCHERSCOPE® XDAL® 600 - HELMUT FISCHER SRL - 用于电子元件 / 测量 - 图像 - 2
X射线荧光光谱仪 - FISCHERSCOPE® XDAL® 600 - HELMUT FISCHER SRL - 用于电子元件 / 测量 - 图像 - 3
X射线荧光光谱仪 - FISCHERSCOPE® XDAL® 600 - HELMUT FISCHER SRL - 用于电子元件 / 测量 - 图像 - 4
X射线荧光光谱仪 - FISCHERSCOPE® XDAL® 600 - HELMUT FISCHER SRL - 用于电子元件 / 测量 - 图像 - 5
X射线荧光光谱仪 - FISCHERSCOPE® XDAL® 600 - HELMUT FISCHER SRL - 用于电子元件 / 测量 - 图像 - 6
添加到我的收藏夹
添加到产品对比表
 

产品规格型号

类型
X 射线荧光
应用领域
测量, 用于电子元件

产品介绍

• XRF測試儀器符合 X射線標準 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 • 非破壞性測量≤ 0.1 µm (0.004 mils) 的超薄鍍層的鍍層厚度及材料分析 • 4x 可切換的準直器 (collimator): Ø 0.1 mm (3.9 mils), Ø 0.3 mm (11.8 mils), Ø 1 mm (39.4 mils), Ø 3 mm (118 mils) • 3x 可切換的初級濾波器 • 手動可調節樣品台(剪叉式升降臺),方便快速放置樣品 • 由於其緊緻的設計,XRF儀器重量輕,只需要很少的空間 • 作為定位輔助的雷射指示器能幫助快速對準樣品 • 高解析度彩色攝像機簡化了測量區域的精確定位 • 經由使用介面友善的Fischer WinFTM®軟體操作、評估測量並清晰顯示測量值 FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 是一款人性友善設計的XRF桌上型儀器,用於鍍層厚度測量和材料分析。它的特點是緊緻,實用的設計,但仍包含了符合預期的精密XRF測量組件。 測量薄鍍層(≤ 0.1)μm,精確、快速、非破壞性。此外,對具有複雜成分或低濃度的XRF分析也能輕鬆實現。由於DCM(距離控制測量)方法的專利,即使是複雜幾何形狀樣品的鍍層厚度測量和材料分析也非常簡單。 正如您習慣的Fischer XRF 光譜儀一樣,XDAL 600也是普遍適用的。它具有電動可切換的4個準直器以及3種初級濾波器,為每次測量創造理想的激發條件,從而滿足最大的靈活性和廣泛的測量需求。數位脈衝處理器DPP+能夠處理更高的計數率,以獲得最高的測量精度和更短的測量時間。 這種能量色散XRF測試儀的研製特別注重穩定性和耐久性。因此,所有的要求都是為了在所有條件下,如在電鍍和生產中,都能獲得較長的使用壽命。像所有Fischer的XRF測試儀一樣,您將受益于其卓越的準確性和長期穩定性。因此,重新校驗的必要性大大降低,您節省了時間和精力。

PDF产品目录

该产品还没有PDF产品手册

查看HELMUT FISCHER SRL的所有产品目录
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。