X射线荧光光谱仪 FISCHERSCOPE® XAN®

实验室测量

• 根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩檢的通用X射線螢光光譜儀 • 高階半導體檢測器（PIN和SDD） 確保出色的檢測精度和高解析度 • XAN 250和252：用於測量鋁，矽或硫之類的輕元素； • 準直器：固定或4種可切換，最小測量點約為0.3mm • 基本濾片：固定或6種可切換 • 固定樣品支架或手動XY載物台 • 攝影機可輕鬆定位最佳測量位置 • 樣品高度最多17釐米; 應用 • 牙科合金的非破壞分析，銀測試 • 多層鍍層測試 • 電子和半導體行業中厚度為10nm以上的功能塗層的分析 • 消費者保護中的微量分析，例如測試玩具中的鉛含量 • 根據珠寶業和煉油廠最高精度要求測量金屬合金含量 適合各種應用的合適設備 和XUL系列一樣，FISCHERSCOPE®X射線XAN®儀器非常適合分析簡單形狀的樣品。然而，XAN系列的一大優勢在於其高品質的半導體探測器。X射線螢光不僅可以測量鍍層的厚度，還可以分析合金（例如銅）的成份； XAN系列總共包括5款桌上型XRF光譜儀，涵蓋廣泛的應用範圍。XAN215具有經濟高效的PIN檢測器。非常適合簡單的鍍層厚度任務，例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對於更複雜的合金或貴金屬應用，我們建議使用含有矽漂移檢測器SDD的設備（例如XAN220）：由於其解析度更高，可以可靠地區分金和鉑。當您需要檢測微量重金屬和其他有害物質時，XAN250是您的理想選擇。