光致发光光谱仪 C15993-01

测量CCD

ODPL 测量系统使用积分球来测量全向光致发光光谱并确定样品的发射效率。此过程是非破坏性和无接触的，可以立即计算 IQE（内部量子效率）。IQE 是 GaN 单晶体质量评估所必需的，GaN 单晶体作为功率器件材料受到瞩目。对钙钛矿晶体的质量评估也有必要，预计这些元素有助于提高太阳能发电和 LED 的效率。 详细参数 • 型号 : C15993-01 • PL 测量波长范围 : 300 nm 至 950 nm • 多通道光谱仪 : 光电探测器 : BT-CCD 线阵图像传感器 • 测量波长范围 : 200 nm 至 950 nm • 波长分辨率 : < 2 nm • 光敏设备通道数 : 1024 通道 • 设备冷却温度 : -15 ̊C • AD 分辨率 : 16 位 • 光谱仪光路布置 : Czerny-Turner 型 • 积分球 : 材料 : Spectralon • 尺寸 : 3.3 英寸 • 样品架 : 尺寸 : 基板（6 mm × 6 mm × 1 mm 至 17 mm × 17 mm × 1 mm） • 可以安装 A10095-01 或 A10095-03。 • 落射部件 : 照射光源 : 白光 LED • 观察相机 : 彩色 CMOS 相机 • 视野尺寸 : 约 φ6 mm • 软件 : 测量/分析项目 : EQE 测量 • IQE 计算 • 吸收比测量 • PL 光谱测量 • 尺寸/重量 : 725 mm (W) × 417 mm (H) × 380 mm (D) / 约 39.5 kg