C12570 系列设计用于检查铝层压薄膜和金属箔中的针孔缺陷。在薄膜针孔检测单元中,C12570 系列具有极高的灵敏度,能够检测直径低至 2 μm 的针孔,非常适合不允许存在针孔,并且精准检测优先于高速传送的严格检查用途。
特点
• 最小可检测针孔尺寸:2 µm
• 检测宽度(每单元):450 mm
• 最大检测速度:30 m/min
• 后缀 : -01/-11 : -02/-12 : -03/-13 : —
• 输入电压 (DC) : 24 : V
• 最大消耗电流 : 0.8 : A
• 检测单元 : 探测器 : 光电倍增管 : —
• 检测宽度 : 300 : 150 : 450 : mm
• 通道数 : 2 : 1 : 2 : —
• 光源单元 : 光源/波长 : LED /644 : nm
• 工作温度范围 : +10 至 +40 : °C
• 储存温度范围 : -20 至 +50 : °C
• 工作/储存湿度范围 : 35 至 85(无冷凝) : %RH
• 适用标准 : IEC 61326-1 1 组 A 类 : —