SWIR(短波长红外)成像是非破坏性检查的理想解决方案。它可以看到表面之下的东西,根据其 SWIR 光谱特征区分材料,并提供安全便捷的方式来确保产品质量。
将 SWIR 成像集成到生产线需要 C15333-10E InGaAs 线阵扫描相机之类的相机,其高 SWIR 灵敏度和快速的线速非常适合实时、内联非破坏性检查。
特点
• 950 nm 至 1700 nm 的 SWIR 灵敏度
• 1024 像素线性阵列
• 最大行速率:40 kHz
• 接口:采用千兆以太网
• 配备高质量图像(背景扣除、实时阴影校正)
用途
• 食品和农产品(损坏检查、质量筛查、材质鉴别等)
• 半导体(硅晶圆图案检查、EL/PL 太阳能电池检测等)
• 工业(含水量、泄漏检测、容器检查等)
详细参数
• 型号 : C15333-10E
• 成像设备 : InGaAs 线阵传感器
• 有效像素数 : 1024 (H) × 1 (V)
• 细胞大小 : 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V)
• 有效面积 : 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V)
• 读出速度 : 内部模式:40 kHz(21 μs 曝光时间)
• 同步读出:40 kHz
• 曝光时间 : 21 μs 至 1 s(1 μs 步长)
• 外部触发器输入 : 同步读出
• 外部触发信号路由 : 12 针 SMA 或 HIROSE 连接器
• 图像处理功能 : 背景扣除,实时阴影校正
• 接口 : 千兆以太网
• AD 转换器 : 14 位
• 透镜接口 : C 型接口
• 电源 : 直流 12 V
• 功耗 : 最大 6 W
• 环境工作温度 : 0 ℃ 到 +40 ℃
• 环境储存温度 : -10 ℃ 到 +50 ℃
• 环境工作湿度 : 30% 至 80%(无冷凝)
• 环境储存湿度 : 最高 90%(无冷凝)