探针卡 SmartMatrix

SmartMatrix™ 3000XP为移动和商品DRAM、图形存储器（GDDR）、高带宽存储器（HBM）和新兴存储器设备提供300毫米全晶圆接触测试。该平台专门为支持快速设计和先进的产品路线图而开发，它扩展了经过生产验证的Matrix™架构，以解决增加探针卡的并行性，在单次触控上每片晶圆超过3000点。利用FormFactor业界领先的先进的测试仪资源增强（ATRE）技术，该架构支持快速测试速度，时钟速率为125 MHz，共享组信号高达x32。SmartMatrix 3000XP能够在-40˚C到125˚C之间进行测试，满足DRAM半导体的要求。 SmartMatrix 3000XP的高性能和短交货期使当今的DRAM和先进的存储器设备的产量得到优化，并加快了上市速度。