最新的DRAM芯片在游戏机和个人电脑以及服务器应用中提供了极其快速和流畅的图形和缓存响应。
随着半导体被堆积到多任务芯片的紧凑封装中,它们为越来越小的手机、物联网和其他消费电子产品提供了飞速的内存容量。使用FormFactor的Matrix和PH系列晶圆探针卡可以优化对这些新型、高性能、高密度DRAM器件的测试,因为它们提高了效率,降低了DRAM测试的总体成本。
每一个比特都必须进行测试,以确保最佳性能,这使得大规模并行晶圆级测试对于以较低的总体成本进行高产、批量生产至关重要。FormFactor DRAM测试解决方案的可扩展架构可轻松适应DRAM芯片设计的超高引脚数、晶圆尺寸和架构,并优化利用电源和低力度的精密接触。
---