探针卡 HFTAP Series

HFTAP K32产品的行业领先性能加入了FormFactor的高频测试探针卡系列，包括用于测试1.0 GHz、1.6 GHz和2.2 GHz DRAM设备的K10、K16和K22。先进的PCB技术，由FormFactor独家提供，允许被测设备（DUT）和自动测试设备（ATE）之间进行最快的通信。通过利用FormFactor的矩阵结构，HFTAP K32探针卡的测试速度是其他全晶圆接触器所不能达到的。 FormFactor的HFTAP K32探针卡架构的扩展能力使DRAM客户能够在晶圆级速度测试中达到3.2 GHz/6.4 Gbps，用于下一代已知良好芯片（KGD）存储器。最近，全行业采用2.5D和3D先进封装技术的异构集成系统，推动了对KGD的需求。KGD测试的好处是确保最终堆叠和组装的封装不会因为一个坏芯片而报废。 这种先进的MEMS探针卡架构被用来验证电气性能和产量，不仅是单个芯片，还有用于HBM堆栈的设备，包括细间距的插接器，以确保整个封装的性能。HFTAP K32 探针卡解决方案使客户能够在先进封装的异质集成过程的任何阶段获得更多的智能，在这种情况下，传统的优化单片硅芯片产量的方式已不再足够。HFTAP探针卡解决方案可根据设备要求以较低的速度提供。