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产品规格型号
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测量
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电阻
产品介绍
随着硅CMOS和SiGe技术的出现,器件越来越小,速度越来越快。测试工程师需要验证其器件的性能,最高可达500 GHz,在某些情况下甚至更高。这种元件/晶圆上的探测解决方案旨在应对高频探测的挑战,用于先进的晶圆上建模和表征,同时在50微米的焊盘上提供低而稳定的接触电阻。在500GHz时,最棘手的问题是探头周围的电场。波导无限探针的新膜GSG接触尖端设计减少了探针尖端附近的杂散电磁场。对探针附近的电磁场进行控制,可以实现高达500GHz的可重复测量,并改善探针之间的串扰性能。
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