3D测量系统 PM300

晶圆用用于半导体显微镜

PM300分析探针台是手动半导体故障分析和在制品测试的行业基准。无论您的应用是什么，这种多功能探针系统的卓越机械性能提供了一个稳定和精确的系统设置。 PM300可作为开放式或屏蔽式系统PM300PS。 PM300PS手动分析探针系统为器件特性和建模、工艺开发、晶圆级可靠性、故障分析和三维IC工程测试创造了一个没有电磁（EMI）和射频干扰（RFI）的测量环境。