温度测量系统 IMS-K-LFN

晶圆用

采用 Keysight A-LFNA 的全面、交钥匙集成测量系统 (IMS) 用于片上研发的高级低频噪声测量 FormFactor和合作伙伴Keysight的应用专家将帮助你配置一个强大的、完整的解决方案，包括。 - FormFactor探针系统。CM300xi-ULN、SUMMIT200（其他可选） - 手动、半自动和全自动的探针站选项 - FormFactor分析探头。手动或电动定位器上的DCP探头（其他可用）。 - FormFactor直流自动化软件。自主直流测量助手，用于在小垫子上进行无人值守的过温探测 - 从-60℃到+300℃的全面过温测量和自动化 - Keysight高级低频噪声分析仪（A-LFNA）。E4727B - Keysight自动化和建模软件。PathWave WaferPro (WaferPro Express) - 为了完成该系统：电缆、适配器、安装硬件等。 业界最具生产力和准确性的高级低频噪声测量系统 晶圆上的1/f噪声测量是任何表征和建模测试系统的一个关键组成部分。由于所需的灵敏度，这种测试很容易受到来自测试系统外部或内部的干扰而被破坏。