温度测量系统 IMS-K-Power

晶圆用用于半导体坚固

采用Keysight PDA的全面、交钥匙集成测量系统（IMS）。 用于片上研发功率半导体器件特性化测量 FormFactor和合作伙伴Keysight的应用专家将帮助你配置一个强大、完整的解决方案，包括。 - FormFactor探针系统。TESLA300, TESLA200, T200, EPS150TESLA (其他可选) - 手动、半自动和全自动的探针站选项 - FormFactor分析探头：高电压探头、高电流探头、高功率探头 - T.I.P.S. "LuPo "高电压/高功率探头卡（可选） - 从-60℃到+300℃的全面过温测量和自动化 - Keysight功率器件分析仪（PDA）。B1505A (其他可选) - Keysight自动化和建模软件。EasyEXPERT group+ - 完成系统：电缆、适配器、安装硬件等。 业界最具生产力和准确性的功率半导体器件表征系统 在测试硅和先进的氮化镓/碳化硅器件的晶圆上而非封装内时，研发工程师和测试操作员在收集高精度数据方面面临一些重大挑战。这些挑战包括需要在高电压下的探针和系统防磨损，高电流下的低电阻探针和晶圆接触，以及对薄晶圆的特殊处理。