温度测量系统 IMS-K-SiPh

光学晶圆用用于半导体

带有Keysight光电技术应用的全面、交钥匙的综合测量系统（IMS）。 套装硬件和软件 FormFactor和合作伙伴Keysight的应用专家将帮助你配置一个强大的、完整的解决方案，包括。 - FormFactor探头系统。CM300xi, SUMMIT200, MPS150 (其他可选) - 手动、半自动和全自动的探针站选项 - FormFactor分析探头。手动或电动定位器上的射频和直流探头 - FormFactor集成单面、双面或三面HexNano光学定位器 - FormFactor光子学自动化软件。用于自动光学定位器校准和控制的SiPh-Tools和光子学控制器接口 - 从-40℃到+125℃的温度测量和自动化 - 可调谐激光器、功率计和偏振合成器。Keysight N7776C, N7778C, N7744C, N7745C, N7786C, N7788C (其他可选) - 模块化激光器。Keysight 81606A, 81607A, 81608A 和 81602A (其他可用) - Keysight半导体参数分析仪或PXIe SMU用于光转电（O-E）。B2901A, B1500A, M9601A PXI SMU (其他可用) - Keysight测试和自动化软件。Photonics Application Suite (PAS), PathWave Test Automation with FormFactor Wafer prober plug-in - 完成系统：电缆、适配器、安装硬件等。