磁性粒子探伤仪 DEFECTOMETER M 1.837

磁性粒子探伤仪 - DEFECTOMETER M 1.837 - Foerster Instruments
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产品规格型号

所用技术
磁性粒子

产品介绍

紧凑型移动裂纹测试 仪 M 1.837 非常适合需要移动裂纹测试的所有情况。 该装置具有从 20 µm 开始的缺陷分辨率和多种自动功能。 LED 刻度读数和 LCD 显示屏即使在光天化日之下或完全黑暗的情况下也能确保良好的易读性。 35 h 的长使用寿命和 USB 端口使其成为手动裂纹和硬度测试以及材料分离的完美伴侣。 您的优势一目了然 • 高灵敏度和 20 µm 的缺陷分辨率 • 操作简单 • 自动提升、零和倾斜补偿 • 提升探头警告 • LED 秤显示屏和 LCD 显示屏非常清晰 • 启动 35 小时操作 背光 • USB 端口用于可视化和记录测量结果 • 可以使用早期缺陷仪的探头

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