光学轮廓测量仪 35 nm - 3 µm | F42
薄膜分析用

光学轮廓测量仪 - 35 nm - 3 µm | F42 - Filmetrics Inc. - 薄膜分析用
光学轮廓测量仪 - 35 nm - 3 µm | F42 - Filmetrics Inc. - 薄膜分析用
光学轮廓测量仪 - 35 nm - 3 µm | F42 - Filmetrics Inc. - 薄膜分析用 - 图像 - 2
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产品规格型号

所用技术
光学
功能
薄膜分析用

产品介绍

Filmetrics F42可能映射影片的厚度,例如OSP,在结束one-million点,其中每一与光点直径一样小象3微米。 使用一台联合CCD照相机,活录影使容易精确定位确切的测量地点。 一旦特点在视野,在它附近画箱子分析它。 映象点宽度光点直径 厚度测量被做在被显示的每一个映象点,产生光点直径一样小象3微米。 这在甚而最狭窄允许测量被做渠道和洞。 映射 均一可以被检查这些结构以F42系统的映射的能力。 一点击,在百万个个体厚度在一张容易阅读的梯度地图能被计算和被显示。 平均厚度和其他统计自动地报告,当通知所有在射程外厚度测量的用户时。 使用善良适合标准,特点利益能被映射,当排除其他区域时

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。