集成电路的测试仪 CTP10

描述 CTP10是一种模块化测量平台，可高效地全天候测试无源元器件。它使您能够以70 dB的动态范围、很高的速度以及分辨率，通过一次扫描测量插损和回损。CTP10是鉴定DWDM网中所用的大端口数元器件以及光子集成电路（PIC）的理想仪表。 下一代平台和模块 CTP10平台可安装多达10个热插拔模块，并配有嵌入式操作系统，用于处理海量数据。 强大的性能 CTP10拥有市场上较快的扫频和步进式插损与回损测量性能。它单次扫描的动态范围为70 dB，速度为1000 nm/s。