缩放显微镜物镜 MXPLFLN series

半导体检查半变色

我们使用新的制造技术生产物镜，同时改进了数值孔径、工作距离和图像平场性。 其高数值孔径（NA）和3 mm工作距离提高了从中心到边缘的视野和图像质量，使自动化半导体检测具有更大的通量。 有20倍和50倍明场物镜可供选择。   高数值孔径和长工作距离平场半复消色差物镜 – MXPLFLN • 设计用于明场、微分干涉对比（DIC）、荧光和简单偏光观察方法 • 结合了高数值孔径、长工作距离和图像平场性 • 有20倍和50倍放大倍率可选，工作距离为3 mm MXPLFLN50X MXPLFLN50X是我们推出的第一款50倍物镜，其数值孔径为0.8，工作距离为3 mm。与LMPLFLN100X物镜相比，由于在50倍放大倍数下的数值孔径为0.8，所以视野要大四倍。 MXPLFLN20X MXPLFLN20X是我们推出的第一款20倍物镜，其数值孔径为0.6，工作距离为3 mm。该物镜的高数值孔径和高图像平场性可产生非常适合拼接的同质图像