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测量探头 3.5L64-NW1同相网络检查
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产品规格型号
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- 测量
- 所用技术
- 同相网络
- 应用领域
- 检查
产品介绍
近壁探头的两端具有较短的盲区（第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米）。它们非常适用于复合材料的通道检测和复合材料的C扫描检测（分层、脱粘和多孔性）。
优势特性
• 两端具有较短的盲区（第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米）
• 非常适合于复合材料通道检测
• 可用于复合材料的C扫描检测（分层、脱粘、多孔性）
