清洁控制显微镜 CIX100

光学工业LED 照明

奥林巴斯CIX100检测系统是为要求生产组件保持较高清洁度标准的制造商而研发的整体解决方案。依照企业和国际标准对技术清洁度检测数据进行快速采集、处理和存档。该系统方便直观的软件可引导用户完成每一步流程，即使经验不足的操作员也能够快速方便地采集清洁度数据。 奥林巴斯CIX100检测系统：让您的技术清洁更简便 组件、零部件与流体的清洁对于生产工艺十分重要。满足对于常见微观尺寸污染物和异物颗粒的计数、分析和分类的高标准要求对于包括开发、制造、批量生产和成品质量控制在内的所有流程均非常重要。由于颗粒污染物对于零部件的使用寿命存在直接影响，国际和国家指令对于确定重要机械部件颗粒物污染的方法和存档要求均有表述。当前标准要求提供诸如颗粒物数量、粒度分布和颗粒物特征等有关污染物性质的详细信息。 奥林巴斯CIX100清洁度检测系统设计可满足现代工业及国家和国际指令的清洁度要求。 硬件与软件无缝集成的耐用型高生产率系统能够产出可靠、精确的数据。 • 轻松配置用于自动化成套解决方案 • 源自于稳定测量系统的可重复结果 • 卓越的光学性能和可再现成像条件 • 利用集成校准设备进行自动系统自检 • 实现所有硬件组件自动控制的全面系统集成 • 方便的专用工作流能够尽可能减少用户操作并确保数据可靠性，而无关操作员的经验水平。 • 人性化工具让修改检测数据更加轻松。 • 通过分步指导提高生产力并缩短检测时间 • 用户权限管理功能可尽可能减少人为错误 • 采用大尺寸按钮设计，方便触摸屏点击 • 合规一键式报告功能实现高效数据存档 • 所有数据均可自动保存，并可轻松导出和共享 • 提供选配材料分析解决方案的高级显微镜模式 创新一体式扫描解决方案检测反光（金属）和非反光颗粒物的速度是需要使用两个独立图像的传统方法的两倍。对已计数和已分类颗粒物的即时反馈可帮助您快速做出决定。 • 概览图像有助于评估滤膜覆盖情况、颗粒物聚集情况或者最差的颗粒物 • 对2.5 μm至42 mm范围污染物颗粒进行自动实时处理和分类 • 高产能：系统可在一次扫描中同时检测反光和非反光颗粒物 • 实时分析功能让您能够实时对结果做出反应 • 根据选定行业标准定制符合要求的结果 使用功能强大且易用的支持企业和国际清洁度检测标准的工具修改检测数据。以尽可能节省时间的方式清晰展示所有相关检测结果。 • 图像和数据布局清晰有序，提高数据审核效率 • 多种可选视图实现即时颗粒物识别 • 颗粒物位置和缩略图与实时图像关联 • 方便对检测数据进行重新分类、审核修改以及重新计算 • 实时显示整体清洁度代码、颗粒物和分类表 • 通过趋势分析识别随时间推移的潜在测量偏差 • 在一个视图中显示完整检测数据 一键报告功能可满足国际标准规定的要求及方法。自定义报表（如，包括颗粒物形态）轻松满足公司标准。 • 使用预定义合规模板生成专业报告 • 轻松调整模板和报告以满足行业和公司法规 • 支持包括MS Word和PDF等多种输出格式， • 为便于交流使用，对报告文件大小进行了优化。 • 长期数据存储，因此可在数年后用于判断决策合理性