厚度测量系统 Digilayer RFX

红外用于薄膜

I.R. / Digilayer RFX DIGILAYER系列的红外测量传感器可以在线、无接触地测量多层薄膜内部的阻隔层的厚度。 主要特点 是测量透明拉伸膜的理想选择。 设计用于安装在工业环境中 也可在有灰尘、烟雾等的环境中使用。 类别。传感器。 标签:铸膜。 描述 红外线辐射是用来确定PP、PE、LDPE等材料的厚度的测量方法。 测量模块由一个发射器和一个接收器组成，安装在一个标准的I-bean扫描仪上。传感器的管理和测量系统操作台上的轮廓显示与总体测量完全集成。该传感器可以根据应用的具体需要进行个性化定制。 薄膜的边缘检测器 自动修正总厚度的轮廓