厚度测量系统 Essair™ Duplex

用于板材箔片用于定标

Essair™ Duplex ESSAIR™ DUPLEX是电子系统公司的专利测量技术，是无接触直接测量厚度的理想选择。 主要特点 它不使用任何类型的放射源。 以微米或毫米为单位的直接厚度测量。 不与材料接触。 自动校准系统。 类别。传感器。 标签。复合材料，PVC压延，橡胶，板和箔。 描述 ESSAIR™ DUPLEX安装在标准的扫描仪上，以传输模式进行测量，特别适用于刚性材料或具有很高缠绕张力的材料。 缠绕张力测量。 该传感器可以根据应用所需的具体需求进行个性化定制。 - 边缘检测器 - 检测肿块和/或额外厚度的安全系统（肿块检测器），在测量系统的外部 ESSAIR™ DUPLEX传感器被组装在以下的筛选设备上，在电子系统产品系列中包含的那些设备之间有自己的参考卷。 - SLIM DUPLEX