研究粒度分析仪 GRIMM SMPS+C 5420 | 5420-TR-CEN
粒径分布

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产品介绍

SMPS+C 系统采用 19 英寸机架式设计,有 5420-TR-CEN 型(尺寸范围为 10 纳米至 1,094 纳米,完全符合 CEN/TS 17434:2020 标准)和 5420 型(带 M DMA,尺寸范围为 5 纳米至 350 纳米)两种型号可供选择。它专为无人值守全天候实时监测环境空气中的 UFP 而设计。 特点 精确的纳米粒子测定和计数:正丁醇基 CPC,配有可交换的维也纳莱施尔型 DMA - 符合 CEN/TS 标准的 L-DMA:10 ... 1,094 纳米 - 使用 M-DMA 时的粒度下限:5 ... 350 纳米 紧凑型 19" 设计 流量由关键孔径控制 用于样品和鞘气的集成泵 饱和器快门 长期丁醇和冷凝液罐 优点 - 统一的 UFP 粒径测定和计数 - 颗粒损耗低,粒度分辨率高 - 易于集成到 AQMS 监测站 - 无需外部真空 - 连续 3 周全天候无人值守运行 - 无需丁醇干燥即可快速运输 应用 - 符合新的欧洲空气质量监测指令 (AQMD) - 监管空气质量监测,如政府网络 - 符合 ACTRIS 的使用要求 - 气溶胶基础研究 - 环境气溶胶研究 - 纳米技术过程监测 - 大气成核研究 - 纳米粒子传输

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