2.适用说明 -
2.1适用范围 - A)本设备适用于各类电子电器产品及其他产品、零部件和材料进行高低温恒定和渐变试验等环境模拟可靠性试验。
B) 除此以外的使用可能会导致人身伤害和设备损坏!
2.2测试产品限制 - A)易燃、易爆和挥发性物质样品的测试和储存
B) 腐蚀性物质试样的测试和生物试样的储存测试或储存
C)强电磁辐射源样品的测试和储存
2.
有效容积--1000L
内箱尺寸--W(宽)1000mm*H(高)1000mm*D(深)1000mm
试验箱外箱尺寸--W(宽)1560mm*H(高)2350mm*D(深)2700mm(以实际尺寸为准)。
2.性能指标
1.1. - 温度范围-70℃至+180℃。
1.2. - RAMP温度范围 --40℃至+85℃。
1.3. - 温度波动-±0.5℃。
1.4. - 温度偏差-≤±1.5℃。
1.5. - 温度均匀性-≤2.0℃(-40~+85℃范围)。
1.6. - 温度变化的RAMP速率--25℃/分钟内可调(无负载-40℃~+85℃)。
1.7. - 加热和冷却过冲--≤3℃。
1.8. - 最大负荷--箱体每层的承重能力:20KG,共2层。
1.9. - 负荷 - 无
1.10. - 噪声--≤75dB(A声级)。
1.11.-满足测试标准-满足以下测试方法。
GB/T2423.22-2012(IEC60068-2-14:2009)环境试验第2部分:温度变化试验N
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低温试验方法。
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高温试验方法。
GJB150.3A-2009高温试验。
CJB150.4A-2009低温试验。
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