X-Scan ME是一个完整的产品系列,包括现成的光子计数线相机和关键检测器配件,专为恶劣的工业环境而设计。该系列是回收、食品加工、采矿和其他流程行业中复杂制造流程的分拣、分级、质量检测、材料分析和优化的理想解决方案。X-Scan ME是高端应用的完美选择,这些应用需要超越传统的双能配置的材料识别能力,但又需要坚固耐用、易于系统集成和可维护性,以获得更高的扫描性能和终端用户体验。
X-Scan ME配备了精确的传感器间隙和对准控制,以及VHF(极高通量)配置。该系列采用独特的X-Card ME3 XC探测器板,与上一代板相比,光子计数能力提高了一倍。除了多能模式外,X-Scan ME的有效能量范围为20~160keV,并可配置光子计数模式,使其轻松发挥强大的多能技术优势,满足多用途扫描需求。
该系列建立在一个易于扩展的模块化平台上。它具有坚固的IP67级外壳和可靠的机械和电气接口。它有一个内置的液体冷却电路,用于抗污染和可靠的探测器热管理。X-Scan ME配有一个适合应用的强大控制单元X-IM ME3-H。
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