3D轮廓测量仪 Z-Trak
光学激光用于半导体

3D轮廓测量仪 - Z-Trak - Dalsa - 光学 / 激光 / 用于半导体
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产品规格型号

所用技术
光学, 3D, 激光
应用
用于半导体
技术参数
用于汽车工业
其他特性
多传感器

产品介绍

用于在线测量和检测应用的高性能3D轮廓传感器 Z-Trak是一系列3D轮廓传感器,利用激光三角测量法提供高分辨率的实时高度测量。这些轻巧的IP67级轮廓传感器是汽车、电子、半导体和工厂自动化领域在线测量、检测、识别和引导应用的理想选择。 Z-Trak系列在不同的操作条件下提供可靠和可重复的结果。Z-Trak型号可处理的物体宽度为8.5毫米至1520毫米,高度范围为10毫米至1000毫米。所有Z-Trak型号都经过工厂校准,并有适合表面反射率的激光器选项可供选择。 Z-Trak系列具有实时激光线优化功能,可获得统一的测量结果,使用通用千兆网络路由器和以太网供电(POE)进行多传感器同步,以简化设置和配置。Z-Trak系列与Teledyne DALSA经过现场验证的软件包--Sapera LT、Sapera Processing和Sherlock 8 3D捆绑在一起,无需额外费用。此外,Z-Trak传感器可以使用GenICam®或专有接口与第三方软件包一起运行。 强大的。多用途。易于集成。 所有Z-Trak型号都经过工厂校准,并包含强大的功能,如FIR峰值检测器、优化的光学设计、优化集成时间的自适应激光控制、经过现场验证的软件库等。 总体结果是什么?高精度、高分辨率的3D激光剖面仪,总成本低。

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