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CIP-FICO-II
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产品介绍
► 独立的光纤耦合Tx和Rx头 ► 实时光谱分析 ► 宽带灵敏度高达4.0THz ► 透射和反射模式 ► 多种镜头选择以适应不同的成像条件 ► 测量点由激光导引器指示,用于精确校准 功能性 ► 独立的反射测量 ► 非常适合光谱和成像应用,包括非破坏性测试 ► 可穿透许多电介质材料 ► 厚度和涂层测量 ► 可选的XY成像平台,用于快速和方便的成像测量
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此为机器翻译文本。 (查看英文原文)
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