它采用高分辨率光学镜头,结合高精度图像分析算法,并融入一键闪测原理,CNC模式下,只需按下启动键,仪器即可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成,真正实现一键式快速精准测量。
同时具备白光干涉扫描系统,3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,能够对芯片Z向实现微纳尺度的3D扫描和重建,精确测量表面的高度轮廓尺寸;全自动上下料平台,配置扫描枪,高效实现产线全自动化生产。
全自动晶圆检测机可广泛应用于芯片、半导体制造及封装工艺检测、精密配件、光学加工、微纳材料及制造、MEMS器件等超精密加工行业。
二、产品特点
自动上下料&生产:
1、配置自动上下料平台;
2、配置高精度上下料方式,实现产线高自动化程度;
针对产线开发,方便管理:
1、可设定三种权限模式:Operater、Engineer、Administrator便于管理操作;
2、可与客户生产数据管理系统连接,便于数据的管理分析;
3、测量现场立即评价测量尺寸偏差,一键生成统计分析、检测结果报告等;
功能丰富,自动报表:
1、软件分为两大部分,其中平面轮廓尺寸的影像测量方式分为测量设定、单件测量、CNC测量、自动测量、统计分析五大功能模块,而3D轮廓尺寸的白光干涉成像方式分为测量设定、数据处理和分析工具等三个步骤,其中可预配置数据处理和分析工具,实现一键测量与分析。
2、平面轮廓尺寸影像测量模块提供多达80种提取分析工具、包括【特征提取】工具(如最值点、中心线圆弧、峰值圆等),【辅助工具】(如任意点线圆、拟合直线、拟合圆、切线、内切圆等),【智能标注】工具,【形位公差】工具,特殊【应用工具】(如倒角、圆角、节距距离、节距角度、圆径十字、槽孔、螺纹、弹簧、密封圈等);而3D测量模块提供粗糙度、台阶高、距离测量、孔洞体积等2D/3D分析工具。
3、自动输出SPC分析报告,可输出统计值(如CA、PPK、CPK、PP等)及控制图(如均值与极差图、均值与标准差图、中位数与极差图、单值与移动极差图)。