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- 计量和测试仪器
- 光学轮廓测量仪
- Chotest Technology Inc.
光学轮廓测量仪 SuperView W1-Lite3D工业用途实验室
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产品规格型号
- 所用技术
- 光学, 3D
- 应用
- 实验室, 工业用途
- 配置
- 台式
- 其他特性
- 非接触式
产品介绍
产品型号： SuperView W1-Lite
产品名称： 纳米 3D 光学表面轮廓仪
标准视场：(0.98*0.98)mm
最大视场角(6x6)mm
测试对象的反射率：0.05 % ~100
粗糙度 RMS 重复性：0.01 纳米
扫描范围：≤10 毫米
分辨率 0.1nm
平台测量精度 0.3 %
平台测量重复性 0.08% 1σ
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