光学轮廓测量仪 SuperView W1-Ultra

3D用于生产线工业

产品型号： SuperView W1-Ultra 产品名称： 纳米 3D 光学表面轮廓仪 标准视场：(0.98*0.98)mm 最大视场角(6x6)毫米 测试对象的反射率：0.5 % ~100 粗糙度 RMS 重复性：0.005 纳米 扫描范围：≤10 毫米 分辨率 0.1nm 平台测量精度 0.3 % 平台测量重复性 0.08% 1σ SuperView W1-Ultra 光学 3D 表面轮廓仪是对各种精密零件进行亚纳米级测量的理想仪器。它基于白光干涉技术原理，结合精密的 Z 方向扫描模块和 3D 建模算法，对物体表面进行非接触式扫描，然后建立物体表面的 3D 图像。经过 XtremeVision 软件对三维图像的处理和分析，可以得到一系列反映物体表面质量的二维、三维参数。 SuperView W1 是一款用户友好型精密光学仪器，具有强大的分析功能，可测量各种表面形状和粗糙度参数。它采用独特的光源，可以测量各种表面光滑和粗糙的精密零件。