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- Chotest Technology Inc.
表面测量表 VT6200平面度粗糙度条纹
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产品规格型号
- 测量对象
- 表面, 平面度, 粗糙度, 条纹
- 技术
- 光学, 共焦
- 应用
- 工业, 实验室, 检查
- 配置
- 台式
- 其他测量特性
- 高精度, 立式
产品介绍
共聚焦显微镜 VT6200 专用于各种精密部件和材料表面的微纳级别测量。它可以测量从光滑到粗糙、从低反射率到高反射率的各种物体表面，以及粗糙度、平面度、微几何轮廓、曲率等。
急倾斜表面
任何反射率的表面
单键批量分析
支持 300 种 2D 和 3D 参数
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