表面测量表 SuperView W5

粗糙度表面粗糙度光学

描述 SuperView W5 主要用于高精度测量不规则工件的表面粗糙度和波纹度。它配备了一个五轴工作台（X/Y/Z 轴、倾斜和旋转），可通过导入的三维模型实现快速定位。然后，测量头可自动扫描指定位置，并通过软件获取包括二维/三维形貌、粗糙度、波纹度等在内的测试数据。 应用 用于测量和分析半导体、3C 电子、超精密加工、光学加工、微纳米材料、微机电系统等行业精密部件的表面粗糙度和轮廓。 测量和分析各种产品、部件和材料的表面形状和轮廓特征，如平面度、粗糙度、波浪度、外观、表面缺陷、磨损、腐蚀、间隙、孔、台阶、曲率、变形等。