光学轮廓测量仪 SuperView W1

3D表面平整度测量用工业用途

纳米三维光学表面轮廓仪 SuperView W1 产品型号： SuperView W1/W1-Pro 产品名称：纳米 3D 光学表面轮廓仪 标准视场角(0.98*0.98)mm 最大视场角(6x6)毫米 测试对象的反射率：0.5 % ~100 粗糙度 RMS 重复性：0.005 纳米 扫描范围：≤10 毫米 分辨率 0.1nm 平台测量精度 0.3 % 平台测量重复性 0.08% 1σ SuperView W1 光学三维表面轮廓仪是对各种精密零件进行亚纳米级测量的理想仪器。它基于白光干涉技术原理，结合精密的 Z 方向扫描模块和 3D 建模算法，对物体表面进行非接触式扫描，然后建立物体表面的 3D 图像。经过 XtremeVision 软件对三维图像的处理和分析，可以得到一系列反映物体表面质量的二维、三维参数。 SuperView W1 是一款用户友好型精密光学仪器，具有强大的分析功能，可测量各种表面形状和粗糙度参数。通过独特的光源，它可以测量各种表面光滑和粗糙的精密零件。