涂层厚度测量系统 MX3200
距离周长平直度

涂层厚度测量系统 - MX3200 - Chotest Technology Inc. - 距离 / 周长 / 平直度
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产品规格型号

物理量
涂层厚度, 距离, 周长, 平直度, 磨损, 抗弯强度, 深度
所用技术
光学, 视频, 2D
所测量的产品
小型物件, PCB印刷电路板, 晶圆用, 用于薄膜, 用于半导体, 用于玻璃
应用
工业用途, 实验室, 用于定标, 用于电子元件, 用于汽车工业
其他特性
非接触型, 高精度, 显微镜

产品介绍

显微测量机 MX3200 将显微成像与传统视频测量相结合,实现了微小特征的大范围测量。它配备了电动转塔,可通过切换不同镜头测量各种微观二维尺寸,包括点、线、圆和几何公差等。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。