行扫描显微镜物镜 LS12 series
用于检测工业用途冶金应用

行扫描显微镜物镜 - LS12 series - Chiopt - 用于检测 / 工业用途 / 冶金应用
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产品规格型号

类型
行扫描
专业应用类型
用于检测, 工业用途, 冶金应用, 半导体电路检测, 用于检查物品
其他特性
超低失真
焦距

116 mm
(4.57 in)

图像圈

62 mm
(2.4 in)

产品介绍

适用于 8k/12k 分辨率的相机 标准放大倍率覆盖 0.18X-1.29X 区域 大通光量设计可达 F4.5 超低光学畸变 应用展示 工业 高度 检测金属的刻印 瑕疵 / 污点 检测钢板上的瑕疵污点 液晶、半导体、其他 计数 SD 卡数量计算 几何测量 检测 IC 导线弯曲

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。