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行扫描显微镜物镜
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行扫描显微镜物镜
LS12 series
用于检测
工业用途
冶金应用
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产品规格型号
类型
行扫描
专业应用类型
用于检测, 工业用途, 冶金应用, 半导体电路检测, 用于检查物品
其他特性
超低失真
焦距
116 mm
(4.57 in)
图像圈
62 mm
(2.4 in)
产品介绍
适用于 8k/12k 分辨率的相机 标准放大倍率覆盖 0.18X-1.29X 区域 大通光量设计可达 F4.5 超低光学畸变 应用展示 工业 高度 检测金属的刻印 瑕疵 / 污点 检测钢板上的瑕疵污点 液晶、半导体、其他 计数 SD 卡数量计算 几何测量 检测 IC 导线弯曲
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Chiopt Company Introduction
31 页
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