区域扫描显微镜物镜 FA 15/16A Series用于检测用于识别半导体电路检测
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产品规格型号
- 类型
- 区域扫描
- 专业应用类型
- 用于检测, 用于识别, 半导体电路检测, 用于检查物品
- 其他特性
- 低畸变率
- 焦距
最多: 50 mm
(1.97 in)最少: 6 mm
(0.24 in)
产品介绍
超高成像质量
支持 2000 万像素面阵相机
高相对照度 大通光孔径
畸变＜ 0.1%
聚焦范围从 0.1m 到无穷远
兼容 1’’、2/3” 芯片
应用展示
电子零件
有无 / 辨别
检测微小芯片的个数 & 刻印不良
瑕疵 / 污点
检测 相机缺陷
液晶、半导体、其他
几何测量
检测 IC 导线弯曲
电子零件
连接器
连接器针脚的平整度检测
