大尺寸显微镜物镜 MF series行扫描用于检测工业用途
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产品规格型号
- 类型
- 行扫描
- 专业应用类型
- 用于检测, 工业用途, 用于检查, 用于印刷机, 冶金应用, 用于识别, 半导体电路检测
- 其他特性
- 低畸变率, 大尺寸
- 焦距
最多: 90 mm
(3.54 in)最少: 35 mm
(1.38 in)
产品介绍
最大像面可达 43mm，支持 2900 万像素芯片
可适配 4k 线扫相机，对应 5μ/7μ 像元
光学性能优于单反镜头
标准焦段及倍率可供选择
适用于印刷包装检测
应用展示
工业
瑕疵 / 污点
检测钢板上的瑕疵污点
电子设备
有无 / 辨别
辨别电池组的颜色
电子零件
高度
检测金属的刻印
液晶、半导体、其他
计数
SD 卡数量计算
