行扫描显微镜物镜 LS40 Series
用于检测工业用途冶金应用

行扫描显微镜物镜 - LS40 Series - Chiopt - 用于检测 / 工业用途 / 冶金应用
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产品规格型号

类型
行扫描
专业应用类型
用于检测, 工业用途, 冶金应用, 用于识别, 用于LED检查
其他特性
超低失真
焦距

最多: 100 mm
(3.94 in)

最少: 40 mm
(1.57 in)

产品介绍

专为 8k7μ 线扫描相机而设计 标准焦段及倍率可供选择 倍率覆盖 0.02x-0.4x V-Mount,灵活适配不同接口相机 适用于锂电等大尺寸检测 应用展示 工业 高度 检测金属的刻印 电子零件 瑕疵 / 污点 LED 外观检测 有无 / 辨别 辨别电池组的颜色 工业 瑕疵 / 污点 检查极片涂布上的瑕疵 / 污点

PDF产品目录

* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。