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- Changchun New Industries Optoelectronics Tech.Co.,
激光测量系统 STA-CAC形变光学晶体
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产品规格型号
- 物理量
- 形变
- 所用技术
- 激光, 光学
- 所测量的产品
- 晶体
产品介绍
在晶体生产过程中，由于材料纯度、生产工艺等原因，晶体的光吸收均匀性会受到影响，从而影响晶体效率；吸收电磁波后，电磁波能量转化为热能，引起材料内部温度变化，使晶体内部吸热不均匀，产生较大变形。因此，研究激光晶体材料的光吸收系数对激光输出和频率转换效率的影响具有重要的指导意义和实用价值。
利用双光路差分原理，实时监测样品通过前后的激光功率，旋转样品达到最佳测试点，从而得到激光晶体的吸收系数。
- 双光路设计可实时监测激光功率，确保测试结果的准确性
- 根据样品的特性匹配不同波长的激光器
- 可根据待测样品定制样品支架
- 测量结果直观且可保存，便于后续处理和分析
- 操作简单，易于使用
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