探头扫描式显微镜 EIKOS-UV™

用于研究3D

原子探针可为研究和工业领域提供常规的高性能三维纳米分析。 基于原子探针断层分析仪器和应用领域30年的成功经验，CAMECA开发了EIKOS™原子探针显微镜，应用于合金的快速研制和纳米级材料研究。 EIKOS原子探针提供了： 具有纳米级微观结构表征的三维层析成像 高效率的高空间分辨率单原子探测 对所有元素及其同位素的灵敏度一致 定量组分测量（亚纳米至近微米级） 可提供电压或电压和激光配置 标准样品制备方法 EIKOS可提供2种配置： 基础EIKOS系统采用反射器设计，可提供出色的质量分辨能力和信噪比。预先对准的集成反电极确保易用性和高可靠性。电压脉冲系统在各种冶金应用中提供了非常高的数据质量。 完全配置的EIKOS-UV系统结合了基础EIKOS（电压脉冲，基于反射功能，预对准反电极）的所有突出特性，并增加了一个完全集成的激光脉冲模块和计算机控制的焦斑设计，以适用于更大的应用范围。 基础EIKOS系统可现场升级至EIKOS-UV。