探头扫描式显微镜 LEAP® 6000 XR

用于研究3D光谱

LEAP 6000 XR 继承了前几代 APT 的关键特性，在成熟的局部电极设计中增加了深紫外激光脉冲，以提供更高的产量和数据质量。通过与微尖阵列和重新设计的光学系统的兼容性，LEAP 6000 XR 提供了更高的易用性和全自动操作的潜力。 CAMECA 的 LEAP 6000 XR 与微尖兼容，能够利用先进的自动化功能，为您的研究应用提供更大的产量和更高的灵敏度。 它引入了一种新的工作模式，即同时向样本施加激光脉冲和电压脉冲。由于大部分光谱背景是由于持续电压引起的超时蒸发造成的，因此在整个实验过程中，背景明显较低。 深紫外激光波长可提高产量并实现更精确的重建 同步电压加激光脉冲 (VLP) 操作，灵敏度更高，更容易识别峰值 LEAP 自动化实现了非工作时间和无人值守的操作，可获得更快的投资回报