3D轮廓测量仪 Dektak XTL
探针式工业

3D轮廓测量仪 - Dektak XTL - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 探针式 / 工业
3D轮廓测量仪 - Dektak XTL - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 探针式 / 工业
3D轮廓测量仪 - Dektak XTL - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 探针式 / 工业 - 图像 - 2
3D轮廓测量仪 - Dektak XTL - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 探针式 / 工业 - 图像 - 3
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产品规格型号

所用技术
3D, 探针式
技术参数
工业

产品介绍

针对300mm尺寸样品进行优化,用于质量保证/质量分析的探针式轮廓仪 Dektak XTL探针式轮廓仪 Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计,具有易用的联锁门,是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力,其高自动化水平可最大限度地提高测试通量。 业界最佳自动化和分析软件 增强的软件功能使 Dektak XTL 成为功能最强大、最容易使用的探针式轮廓仪。该系统利用 Vision64 软件,通过数百种内置分析工具实现众多的测量位点、3D成像和高度自定义的特征分析。Vision64软件还能测量形状,如曲率半径。模式识别可最大限度地减少操作员误差并提高测量位置精度。集成化的软件包将数据收集和分析与直观的工作流程相结合。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。