3D轮廓测量仪 DektakXT
探针式工业台式

3D轮廓测量仪 - DektakXT - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 探针式 / 工业 / 台式
3D轮廓测量仪 - DektakXT - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 探针式 / 工业 / 台式
3D轮廓测量仪 - DektakXT - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 探针式 / 工业 / 台式 - 图像 - 2
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产品规格型号

所用技术
3D, 探针式
技术参数
工业
配置
台式

产品介绍

DektakXT®探针式轮廓仪采用革命性的台式设计,可实现 4Å (0.4nm) 的无与伦比的重复性,扫描速度可提高 40%。探针式轮廓仪性能的这一重大里程碑是 Dektak® 五十多年创新和行业领导地位的顶峰。DektakXT 结合了行业第一的技术和设计,可提供极致的性能、易用性以及价值,实现从研发到质量控制的更好过程监控。DektakXT 的技术突破为微电子、半导体、太阳能、高亮度 LED、医疗和材料科学行业的关键尺寸的纳米级表面测量提供支持。 DektakXT 利用独特的直接驱动扫描样品台,将测量时间加快 40%,同时保持行业领先的性能。Vision64 是布鲁克的 64 位并行处理操作和分析软件,能够更快地加载 3D 形貌文件,并更快地应用筛选器和多区域数据库分析。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。