光学轮廓测量仪 ContourX-1000

3D用于粗糙度测量工业

用于研究和生产的自校准、全自动化解决方案 ContourX-1000三维光学轮廓仪 ContourX-1000落地式白光干涉仪（WLI）使获得高质量的三维区域表面纹理和粗糙度测量变得简单而快速。融合了30多年的创新和我们最新的专利软件和技术，该计量系统提供了布鲁克公司光学轮廓仪闻名的快速结果和可重复性，并提高了产量，甚至更容易操作。 ContourX-1000具有完全的自动化能力，直接的用户体验，以及精简的测量设置和分析配方，在几乎任何表面，由任何操作者提供最准确和精确的测量，甚至在多用户的大批量生产设施中。 专有的 硬件和系统特点 在任何表面上提供最精确的表面纹理和粗糙度测量。 自我校准 激光 确保开发或生产应用的可测量的计量学。 便于操作的 软件 自动测量和分析，不受操作者经验的影响，实现无损的计量。