光学轮廓测量仪 ContourX-500
3D白光干涉工业

光学轮廓测量仪 - ContourX-500 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / 白光干涉 / 工业
光学轮廓测量仪 - ContourX-500 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / 白光干涉 / 工业
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产品规格型号

所用技术
光学, 3D, 白光干涉
技术参数
工业
配置
台式
其他特性
非接触式

产品介绍

ContourX-500 光学轮廓仪是全球功能最全面的自动化台式系统,可快速完成非接触式三维表面计量。ContourX-500 具有卓越的 Z 轴分辨率和准确度,并具备布鲁克落地式白光干涉(WLI)仪器广受业界认可的所有优势,而占地面积更小。该款轮廓仪可轻松自主配置,适用于从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制(QA/QC)计量到眼科和微机电系统(MEMS)器件的研发表征等广泛的复杂应用。 布鲁克专有的光学头倾斜/俯仰技术,为用户生产设置和检测提供极大的灵活度。布鲁克将自动倾斜/俯仰功能与显微镜头中的光路相结合,实现了检测点与视线的结合,不受倾斜影响,从而减少操作人员的干预,提供最大可重现性。其他硬件功能包括创新工作台设计,可提升拼接能力;配备一只 5MP 摄像头,并采用 1200x1000 测量阵列,可降低噪声、扩大视场并提高横向分辨率。ContourX-500 将这些功能与自动化平台设置和物镜相融合,而且仅占较小的空间,成为“按需测量”研发和工业计量的理想系统。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。