X射线衍射仪 D8 ADVANCE Plus

用于粉末

D8 ADVANCE Plus结合了最大的灵活性和无与伦比的易用性，完美地满足了环境和非环境条件下外延和多晶薄膜、散装和粉末样品的分析需求。 得益于TRIO光学系统，只需按下按钮，即可在不同的仪器几何形状之间进行切换，无需用户干预。 采用布拉格-布伦塔诺几何学，实现无与伦比的粉末衍射。 在外延样品上的高强度的超强分辨率 掠夺入射几何中的最佳多晶薄膜衍射法 XRR可测定0.1纳米至250纳米的薄膜厚度。