光学轮廓测量仪 IF-Profiler
3D用于粗糙度测量工业

光学轮廓测量仪 - IF-Profiler   - Bruker Alicona - 3D / 用于粗糙度测量 / 工业
光学轮廓测量仪 - IF-Profiler   - Bruker Alicona - 3D / 用于粗糙度测量 / 工业
光学轮廓测量仪 - IF-Profiler   - Bruker Alicona - 3D / 用于粗糙度测量 / 工业 - 图像 - 2
光学轮廓测量仪 - IF-Profiler   - Bruker Alicona - 3D / 用于粗糙度测量 / 工业 - 图像 - 3
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产品规格型号

所用技术
光学, 3D
功能
用于粗糙度测量
技术参数
工业
配置
紧凑型

产品介绍

如何测量粗糙度和表面光洁度 IF 轮廓仪是一种手持式 3D 粗糙度测量系统,用于高分辨率测量表面光洁度。 用户 仅用一个系统测量扁平和弯曲部件的粗糙度。 测量基于剖面(ISO 4287)和基于区域(ISO 25178)进行。 轻量级的 IF-Profiler 由三维测量传感器和坚固耐用的框架组成。 人体工程学设计结合了易用性和所要求的机械刚性。 IF-Profiler 可在高速测量条件下实现灵活的测量和应用。 各种位置和测量字段可追溯且直观地测量。 粗糙度测量系统还用于测量陡峭侧面和各种涂层的几何形状。 用作控制服务器的笔记簿可以灵活使用。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。