表面电位测量表

非接触式

用我们的KSV NIMA表面电位传感器（SPOT）深入了解Langmuir单层的相互作用。 概述 您可以做什么 确定分子取向。SPOT通过观察表面电位的变化并将数据与表面压力信息相结合，提供分子取向的信息。 深入观察Langmuir层的相互作用。单纯的表面压力等温线无法分离表面压力变化的原因。与SPOT相结合，从该层收集的数据增加了一倍，对该层有了深入的了解。 确定有效偶极矩。该传感器可用于通过对压缩薄膜的简单表面电位测量来确定有效偶极矩。 表征薄膜电子结构。分子电子结构的微小变化可以通过测量表面电位的变化来检测。 表征分子结构。通过表面电位图的位置偏移和峰值来量化分子结构变化的影响。 监测复合物的形成。观察和跟踪单层、亚相物种或吸附物之间的复合物形成。 投资的3个理由 双倍的数据 表面电位传感器与KSV NIMA LB软件一起操作，不需要任何附加软件。表面压力和表面电位都会自动绘制在同一张图上，以便进行简单比较。双倍的数据量--都在一个软件中。 准确和可重复的测量 非接触和非破坏性的振动板电容器方法确保了出色的准确性和可重复性。